涂層測厚儀的無損檢測方法與原理：涂層測厚儀在現(xiàn)實測量中是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)，產(chǎn)品設(shè)計，制造工藝，斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面。

　　在化工，電子，電力，金屬等行業(yè)中，為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用，通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。

　　覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質(zhì)量檢測*的較重要工序。是產(chǎn)品達到優(yōu)質(zhì)標準的*手段。目前，國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要。

　　有關(guān)覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。

　　電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測試上應(yīng)用。

　　磁性測量法及渦流測量法，隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微處理機技術(shù)后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm，精度可達到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用較廣泛的儀器。超聲波物位計,超聲波液位計,超聲波測厚儀。

　　采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。以下分別介紹幾種常規(guī)測厚的方法