涂層測厚儀除了可以測量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層，亦可以測量金屬電鍍的鍍層測厚儀，因而，涂層測厚儀，通常也稱為涂鍍層測厚儀。

常規(guī)涂層測厚儀的原理

對測振外表面保護(hù)、裝璜造成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在無關(guān)國jia和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。

覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、外表面工程品質(zhì)檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品到達(dá)優(yōu)等品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的*要點。

覆層厚度的測量辦法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些辦法中前五種是有損檢測，測量方式繁瑣，速度慢，多實用于抽樣測驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有噴射源，運用者必需恪守射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法合適鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術(shù)的日益提升，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多性能、高精度、適用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可到達(dá)1%，有了大幅度的提升。涂層測厚儀實用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研運用寬泛的測厚儀器。

涂層測厚儀采用無損辦法既不毀壞覆層也不毀壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地實行。